MCU公司测试遇到的问题

测试项目自动化、半自动化占比低，重复性工作占用大量人;

(资料图)

MCU产品线型号多，外设模块多，测试系统需要统一的管理;

部分测试项目没有完备的方法，需要定制的软硬件方案和服务;

测试数据的收集、分析和合规评审，缺少标准、易用的工具。

MCU芯片自动化测试系统ATECLOUD

测试产品：芯片半导体器件。纳米软件ATECLOUD-IC芯片自动化测试系统适用于二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件综合性能自动化测试。

被测项目：温度测试、耐电压测试、引脚可靠性测试、ESD抗干扰测试、运行测试、X射线侵入测试等。

测试场景：研发测试、产线测试、老化测试、一测二测等。支持MCU、Analog IC、ADC、HIC、IGPT及分立器件全方位测试。

MCU测试分布架构

ATECLOUD-MCU芯片测试优势：

ns级高精度同步测试;

人性化操作界面，可快速理解、快速上手;

无代码快速搭建测试工步，灵活调整可快速扩展;

支持多工位高速并行测试;

高效支持表征、功能评估和批量生产评估;

已兼容2000+仪器型号，包含是德、泰克、R&S普源、鼎阳、艾德克斯等厂家，支持设备持续扩展;

具备数据洞察及大数据分析功能，为科研生产提供数据支撑;

适用于研发/中试/生产芯片全生命周期的应用。

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